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[原创] xplorer 4 Analyzer: 对颗粒分布进行统计过程控制的理想方案

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发表于 2017-9-6 11:38:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
xplorer 4 Analyzer
对颗粒分布进行统计过程控制的理想方案


      本期讲座由Wiley与国际著名电子显微镜生产商FEI(目前归属于Thermo Fisher Scientific)合作举办,将介绍新一代扫描电镜Explorer 4 Analyzer的功能和应用。课程免费开放给所有听众!

讲座内容
      人们对于车辆流体系统中钢材质量和清洁度的要求日益增加,因而工业生产也就需要更先进的分析设备用于更好地控制和预测这些可能影响材料质量和清洁度的环境颗粒。扫描电子显微镜及能谱仪被证明是描述和源解析环境粒子的有力工具,能够帮助人们深入探究颗粒的大小、化学成分和具体形态。
      Thermo Scientific™公司推出的Explorer™ 4 Analyzer是专门用于优化质量管控、改进生产效率和提升收益能力的扫描电子显微镜(SEM)。从钢铁生产到汽车装配,众多工业部门都依赖于Explorer™ 4 Analyzer坚固耐用的硬件和精细复杂的软件,将其视作识别颗粒与曲面特征最为快捷可靠的分析平台。
      在本期在线研讨会上,您将了解到“Explorer™ 4 Analyzer”如何实现以下功能:
      - 在车辆流体系统中监测清洁度并识别污染源,从而降低现场故障率,降低保修成本
      - 针对钢材和有色金属生产,能够自动探测和分类杂质,以此提高生产率、产品质量,节约生产成本;
      - 针对磨粒特征分析,该分析仪能够协助制造商直达生产车间,提升清洁度标准并严格把关生产质量。

时间:2017年9月28日16:00-17:00
主讲人:韩伟博士
      韩伟于2010年进入FEI公司做高级应用工程师,此前在天美公司任电镜产品经理。在1998年北京工业大学获得金属材料工学硕士,2004年在德国克劳斯塔尔工业大学获得物理学博士学位。

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